Wir vertreiben exklusiv in Deutschland die Produkte der Firma Aster Technologies.

Durch den Einsatz von Aster Produkten profitieren Sie während des gesamten Fabrikations und Designzyklus Ihrer Produkte.

• Während der Designphase erlaubt TestWay Express, bereits auf Basis der Netzliste und der gewählten Teststrategie (SPI /AIO /AXI /ICT /FCT) herstellerübergreifend die zu erwartende Testabdeckung zu prognostizieren und mittels geeigneter Zusatzinformationen auch die Produktionsausbeute und Fehlerraten vorauszusagen (Production Model).
• Zusätzlich ist Testway in dieser Phase bereits in der Lage festzustellen, an welchen Knoten Testpunkte/kontaktierstellen nicht zur Verbesserung der Testabdeckung beitragen da über andere Testschritte z.B. Boundary-Scan bereits die volle Testabdeckung an einzelnen Knoten erreicht wird (testpoint save). Ebenfalls kann ermittelt werden wo zusätzlicher Nadelzugriff die Testabdeckung steigern kann (device test improvement)
• Nach dem Layouten, ist Testway in der Lage für zahlreiche Testsysteme bereits mehr-oder-weniger (in abhängigkeit der Softwareumgebung des Zielsystems) komplette Testprogramme zu schreiben! Im Falle der Agilent / Keysight 3070 kann Testway die Schaltungsbeschreibungsdateien "board", "board_xy" sowie zusätzlich die benötigten Bibliotheken erzeugen. Diese Bibliotheken sparen viel Zeit, da die Generierung des Testadapters sofort erfolgen kann, und während des Adapterbaus (in maskierter Zeit) erst die Testroutinen vervollständigt werden können. Bei anderen Testsystemen wird sofern möglich das komplette Testprogramm erzeugt! Z.B. bei Takaya Flying Probern ist das von Testway erzeugte Programm 20-30% schneller als das vergleichbare Takaya Programm aus anderen Quellen (trotz höherer Testabdeckung), und das bei ebenfalls deutlich reduziertem Debug-Aufwand!
• Nach Ende der Debugphase des Testprogramms, erlaubt die Funktion TPQR (Test Program Quality Report), die Daten des in der Produktion genutzten Prüfprogramms (im Falle der 3070 den "Coverage Analyst" Report und/oder die Daten des "Test Graders") wieder einzulesen, und die erreichte Testabdeckung mit der prognostizierten Testabdeckung zu vergleichen. Damit lassen sich schnell und zuverlässig Defizite bei der Programmerstellung aufzudecken! Hier lasen sich auch redundanzen in verschiedenen Testschritten erkennen und damit wertvolle Testzeit gespart werden. Derzeit wird der Import von ca. 80 verschiedenen Testsystemen aller Technologien und Hersteller unterstützt.
  
• Zusätzlich verfügt Testway über die Möglichkeite eine Clustererkennung und kann damit entweder einfache Cluster z.b. für den ICT- Test (Advanced Clusters) oder auch komplexere Schaltungsteile für den Funktionstest erkennen.
• Ein weiteres Zusatz-Modul unterstützt die schnelle Integration der Testabdeckung von in LabView erstellten Funktionstests in die Analyse. Diese Daten können sich auch für eine einfache Reparatur von Baugruppen mit Fehlern im Funktionstest nutzen.
  
  
• Während der Produktion unterstützt Sie die QUAD (Quality Advisor) Datenbank, in der Logfiles der unterschiedlichen Testsysteme und Herstellungsschritte zusammengeführt, analysiert und abgerufen werden können (auch für Dokumentations & Reparaturzwecke oder zur Nachverfolgbarkeit / Traceability/Track & Trace).
  
  
• Für die Reparatur und auch als reiner Viewer ist das Programm QUADView sehr hilfreich, das eine voll synchronisierte grafische Ansicht von Layout & Schaltplan & virtuellem Schaltplan bereitstellt. In dieser lässt sich interaktiv zwischen Schaltplan & Layout suchen und Zusatzinformationen abrufen. Aster hat Routinen entwickelt, die es erlauben, einen Schaltplan zu digitalisieren und damit auch ältere Projekte auf Bauteil- und Pinebene suchbar zu machen. Mit entsprechenden Zusatzoptionen ist die Anzeige / Suche sogar über mehrere Baugruppen in einem Gerät hinweg (TWsystem) möglich! Zusätzlich gibt es einen Parser für Fehlertickets die direkt mit dem Viewer interagieren und auch Reparaturtipps geben können (z.b. Punkte mit geringen Abständen bei Kurzschlüssen)
  
  
• Zur Dokumentation der Teststrategie, für Produktionsbegleitende Dokumentation oder von Umbauten oder Änderungen (ECO) eigent sich der TWdocumentator hervorragend um effektiv und zeitsparend eine schlüssige Dokumentation zu erstellen.
  
  
• DFMexpress erlaubt die mechanische Validation von neuen Designs (DFM) mit Hilfe von konfigurierbaren Regelsätzen, die sich über eine intuitive GUI zu einer angepassten Analysevorlage für weitere Analysen abspeichern lassen
  
  
• FABexpress ist als Ersatz für abgekündigte oder rudimentäre Produkte zur Datenkonvertierung oder Prüfprogrammgenerierung gedacht. Es werden Testpunktlisten exportiert, Bohrfiles generiert und für die jeweils ausgewählten Maschinen entweder Optimierte Rohdaten exportiert oder (je nach Architektur der Maschine) auch gleich lauffähige Prüfprogramme.